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首頁-產(chǎn)品展示--SEM臺(tái)式掃描電鏡-賽可SNE賽可SNE全自動(dòng)臺(tái)式掃描電鏡

賽可SNE全自動(dòng)臺(tái)式掃描電鏡

更新時(shí)間：2024-11-06

產(chǎn)品型號(hào)：賽可SNE

簡要描述：賽可SNE全自動(dòng)臺(tái)式掃描電鏡更加人性化的新一代操作軟件，任何人都能輕松操作，無需專業(yè)測試人員。并提供豐富的擴(kuò)展功能：顆粒物自動(dòng)分析，3D粗糙度分析，超大視野拼圖軟件。超快的真空抽速，減少等待的煩惱，提高測試效率。小巧而精致的設(shè)計(jì)，可在狹窄的空間內(nèi)安裝使用。

  • 企業(yè)實(shí)力

    Enterprise Strength

  • 有效保修

    Valid Warranty

  • 質(zhì)量保障

    Quality Assurance

詳細(xì)介紹

    賽可SNE全自動(dòng)臺(tái)式掃描電鏡特點(diǎn)：

    更加人性化的新一代操作軟件，任何人都能輕松操作，無需專業(yè)測試人員。并提供豐富的擴(kuò)展功能：顆粒物自動(dòng)分析，3D粗糙度分析，超大視野拼圖軟件。超快的真空抽速，減少等待的煩惱，提高測試效率。小巧而精致的設(shè)計(jì)，可在狹窄的空間內(nèi)安裝使用。

    5nmResolution250,000xMagnification：

    1、同級(jí)別最高性能的StageNavigation功能：優(yōu)于5um的高精密navigation移動(dòng)，可迅速位移

    2、同級(jí)別不二標(biāo)配全自動(dòng)5軸樣品臺(tái)：搭載全新的第三代操作軟件

    3、任何人均可簡單操作

    4、強(qiáng)大的自動(dòng)功能

    5、超快的真空系統(tǒng)

    6、Vacuum90sec,Venting15sec

    7、同級(jí)別最快的真空系統(tǒng)，豐富的擴(kuò)展功能

    8、3D粗糙度分析，超大視野拼圖軟件

    9、顆粒物粒物自動(dòng)分析(Particleanalysis)

    10、CompactDesign!更強(qiáng)大的性能!

    11、與現(xiàn)有型號(hào)相比，Dimension減少了40%

    12、300(W)x465(D)x600(H)

    13、強(qiáng)化用戶便利功能

    14、自動(dòng)獲取Navigation圖像

    15、關(guān)閉樣品倉的同時(shí)開始自動(dòng)抽真空

    HIGH-PERFORMANCEHARDWARE：

    最高放大倍率25萬倍，5nmResolution，實(shí)現(xiàn)同級(jí)別最高放大倍率及超高分辨率，通過全新的高精密電子光學(xué)系統(tǒng)，獲取高質(zhì)量圖像。
自動(dòng)獲取Navigation圖像

    五軸全自動(dòng)樣品臺(tái)：

    優(yōu)于5um的高精密全自動(dòng)樣品臺(tái)，實(shí)現(xiàn)迅速位移并精準(zhǔn)的找到樣品位置。
五軸全自動(dòng)樣品臺(tái)

超快的真空系統(tǒng)

     小巧而精致的設(shè)計(jì)，進(jìn)一步提高空間使用率

    -與現(xiàn)款相比，Dimension減少40%

    -小巧緊湊，可在狹窄的空間內(nèi)安裝使用

    -300(W)x465(D)x600(H)

ALPHA（新款SEM）

   NEW第三代Nano-eye

    全新的操作軟件，提高用戶體驗(yàn)

    注重人性化的操作界面，操作更加便捷，在短時(shí)間內(nèi)輕松獲取高質(zhì)量圖像
NEW第三代Nano-eye    
    強(qiáng)大的自動(dòng)功能

    *的AutoFocus功能，可快速獲取高質(zhì)量圖像

強(qiáng)大的自動(dòng)功能

     超大視野拼圖功能：

    超大視野給用戶帶來更直觀的觀測體驗(yàn)，通過超大視野拼圖功能，觀測樣品全貌，得到大范圍的高分辨率圖像

    所需區(qū)域后無需人員操作，軟件開始自動(dòng)區(qū)域掃描，并將圖像拼成全景圖像，方便觀測并提高效率。

超大視野拼圖功能

     3D粗糙度分析

    通過四分割BSE探測器，重構(gòu)3D立體圖像，簡單快速的分析表面粗糙度

3D粗糙度分析

    EDS（EnergyDispersiveX-raySpectrometer）是一種安裝在SEM（電子顯微鏡）上的分析樣品表面成分的裝置。

    利用掃描電鏡的電子束作用在待分析樣品上，接收不同元素在電子束作用后所產(chǎn)生的特征X射線信號(hào)進(jìn)行定性和定量分析。

    Features：

    硅漂移探測器（SDD）

    30mm2有效面積

    超輕元素窗口,元素探測范圍B(5)~Cf(98),

    能量分辨率MnKα≤129eV

    帕爾貼制冷，無需液氮或其他冷卻劑

    簡便的操作軟件，快速實(shí)現(xiàn)對材料的微區(qū)化學(xué)成分分析

    主要功能：定性·定量分析,MappingLineScan,Report等

    賽可SNE全自動(dòng)臺(tái)式掃描電鏡規(guī)格：
全自動(dòng)臺(tái)式掃描電鏡規(guī)格


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