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首頁(yè)-產(chǎn)品展示-X-Ray檢測(cè)設(shè)備-

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賽可(SEC)X-RAY檢測(cè)設(shè)備X-eye NF120 Series

賽可（SEC）X-RAY檢測(cè)設(shè)備X-eye NF120 Series廣泛應(yīng)用于要求檢測(cè)Sub-micron單位不良的半導(dǎo)體封裝及Waffer level packaging（WLP)領(lǐng)域里。

更新日期：2024-11-06

型號(hào)：

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

X-eye SF160F/N Series賽可（SEC）X-RAY檢測(cè)設(shè)備SF160F/N Series

賽可（SEC）X-RAY檢測(cè)設(shè)備SF160F/N Series:用戶可通過(guò)需求選擇Dual CT功能(Oblique CT, Cone-beam CT)實(shí)現(xiàn)3次元（3D）影像中進(jìn)行正確的分析出不良的種類，位置及大小。

更新日期：2024-11-06

型號(hào)：X-eye SF160F/N Series

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

X-eye SF160ER Series賽可（SEC）X-RAY檢測(cè)設(shè)備

賽可（SEC）X-RAY檢測(cè)設(shè)備SF160ER Series ：搭載Micro-focus Open Tube (160kV) 和 Flat Panel Detector ，可獲取高清晰，高倍率圖像，可靈活應(yīng)用在分析及工藝流程檢中的缺陷檢查。

更新日期：2024-11-06

型號(hào)：X-eye SF160ER Series

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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